X-N系列NFC磁性材料
隨著NFC手機(jī)支付和短距離數(shù)據(jù)交換的逐步推廣，無線標(biāo)簽和讀卡器被廣泛的應(yīng)用，以及13.56MHz的RFID終端設(shè)備的普及用于狹小空間的超薄磁性材料正好滿足此需求。
1、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
名稱 厚度及公差/mm
保護(hù)膜 0．030
鐵氧體片 0.100±0.010
雙面膠 0.015
產(chǎn)品尺寸長*寬/mm*mm 115*65（可定制）
總厚度 0.145±10%，可定制
2、產(chǎn)品特性及優(yōu)勢(shì)
■應(yīng)用頻率100KHz~30MHz
■高磁導(dǎo)率
■低損耗
■高電阻率
■超薄
■可裁切
■可粘貼

項(xiàng)目 特性
產(chǎn)品型號(hào) S-F18-150-T100-A
工作溫度 -40℃到+80℃
磁導(dǎo)率（13.56MHz） u′ 150±20%
u″(磁損耗) 1±20%
3、產(chǎn)品應(yīng)用：
■NFC功能手機(jī)和平板電腦支付及數(shù)據(jù)交換
■NB、PC數(shù)據(jù)交換
■數(shù)碼相救數(shù)據(jù)交換
■打印機(jī)數(shù)據(jù)交換
■NB、PC數(shù)據(jù)交換
■物聯(lián)網(wǎng)讀寫器
■RFID讀寫器/標(biāo)簽
4、環(huán)保要求：
此系列產(chǎn)品在使用中對(duì)環(huán)境無影響，符合RoHS要求
5、可靠性測(cè)試：
項(xiàng)目 測(cè)試條件 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
高溫儲(chǔ)存測(cè)試 溫度：+80±5℃， 1、磁導(dǎo)率變化±15%
測(cè)試時(shí)間：96H 2、無可見破損
測(cè)試后室溫放置1H

低溫儲(chǔ)存測(cè)試 溫度：-40±5℃， 1、磁導(dǎo)率變化±15%
測(cè)試時(shí)間：96H 2、無可見破損
測(cè)試后室溫放置1H

高溫高濕狀態(tài)測(cè)試 溫度：60±5℃， 1、磁導(dǎo)率變化±15%
濕度：90%RH 2、無可見破損
測(cè)試時(shí)間：96H
測(cè)試后室溫放置1H